提供各种品牌分立器件测试仪设备,包括LCR电桥、半导体参数测试仪等。

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名称[型号]

简介

单价

BJ2912B
稳压二极管测试仪

可测量IN746~IN986系列，2CW，2DW，系列

面议

BJ2961A
智能化晶体管开关参数测试仪

测量范围：由5nS至500 nS.

68000

BJ2962
二极管反向恢复时间测试仪

频率：20KHZ 误差：正负5%

68000

BJ2983
三极管正偏二次击穿测试仪

测试功率：0~750W（100V，5A或300V，2.5V)

56000

BJ2984
三极管瞬态热阻测试仪

测量对被测管施加1ms~1s的单次功率脉冲前后Vbe的变化

56000

BJ2986
晶体管直流脉冲开关安全工作区测试仪

检测计量晶体管在规定条件下的直流

98000

BJ2989
MOS场效应管瞬态热阻测试仪

可测试0—750WN沟道及P沟道大功率MOS场效应管的瞬态热阻

78000

BJ2990
MOS场效应管测试仪

可测试N沟道及P沟道大功率MOS场效应管的VGS(th)、RDS(on)及ID为0—10A时的跨导gm等主要技术参数

58000

ICT2900
半导体分立器件测试仪

30 pA 漏电流测量分辨率

260000

JS-2D
晶体管反向截止电流测试仪

反向截止电流ICEO、ICBO、IEBO、ICES、ICER、ICEX测量范围及误差

面议

JS-2G
二极管反向漏电流测义

测试二极管及任何二端器件

7300

HB2931B
可控硅综合参数测试仪

通态峰值电压VTM测量范围:0~5V 误差≤+5%;通态峰值电流ITM测量范围:0~20A 误差≤+5%;

26500

FT
高频小功率晶体管ft测试仪

100-1000MHz200-2000MHz10-100MHz30-300MHz400-4000MHz

29500

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