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各种半导体参数测试仪的产品资料、技术参数及报价。包括金三航、新建、北无仪、美国IST等的半导体参数测试仪相关资料。

半导体参数测试仪厂商: 金三航新建北无仪美国IST

　

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名称[型号]

简介

单价

1　

半导体分立器件测试仪shtek8800A

shtek8800A
半导体分立器件测试仪

二极管及整流桥:VR、IR、VF、VZ、HVZ、动态阻抗;三极管:BVCBO、BVCEO、BVCER、BVCES、BVEBO、ICBO、ICEO、ICER、ICES、IEBO、VCES、VBES、HFE;可控硅:IGT、IH、IL、VGT、...

148000

2　

半导体分立器件测试仪ICT2900

ICT2900
半导体分立器件测试仪

30 pA 漏电流测量分辨率

260000

3　

可控硅综合参数测试仪HB2931B

HB2931B
可控硅综合参数测试仪

通态峰值电压VTM测量范围:0~5V 误差≤+5%;通态峰值电流ITM测量范围:0~20A 误差≤+5%;

26500

4　

半导体管特性图示仪QT2

QT2
半导体管特性图示仪

600 V 高压程控电压源（基本配置）最高2000 V;20 A 电流输出能力（基本配置），最大 100 A

面议

5　

截止电流反向击穿电压测试仪BJ2900A

BJ2900A
截止电流反向击穿电压测试仪

200nA 0—199.9nA 0.1nA ±3%满度值±4个字

9500

6　

晶体管测试仪BJ2923

BJ2923
晶体管测试仪

电流源Icc0-2A70--2uA0nAIbb0--500mA70--200nA100PA

面议

7　

闸流晶体管参数测试仪BJ2948

BJ2948
闸流晶体管参数测试仪

可测试VGT,IGT,IH,VT(av),IT(av)VTM,ITM及断态反向等共17个参数

面议

8　

场效应管测试仪BJ2922A

BJ2922A
场效应管测试仪

可测gm,Vp，Idss

面议

9　

稳压二极管测试仪BJ2912B

BJ2912B
稳压二极管测试仪

可测量IN746~IN986系列，2CW，2DW，系列

面议

10　

智能化晶体管开关参数测试仪BJ2961A

BJ2961A
智能化晶体管开关参数测试仪

测量范围：由5nS至500 nS.

68000

11　

二极管反向恢复时间测试仪BJ2962

BJ2962
二极管反向恢复时间测试仪

频率：20KHZ 误差：正负5%

68000

12　

三极管正偏二次击穿测试仪BJ2983

BJ2983
三极管正偏二次击穿测试仪

测试功率：0~750W（100V，5A或300V，2.5V)

56000

13　

三极管瞬态热阻测试仪BJ2984

BJ2984
三极管瞬态热阻测试仪

测量对被测管施加1ms~1s的单次功率脉冲前后Vbe的变化

56000

14　

晶体管直流脉冲开关安全工作区测试仪BJ2986

BJ2986
晶体管直流脉冲开关安全工作区测试仪

检测计量晶体管在规定条件下的直流

98000

15　

MOS场效应管瞬态热阻测试仪BJ2989

BJ2989
MOS场效应管瞬态热阻测试仪

可测试0—750WN沟道及P沟道大功率MOS场效应管的瞬态热阻

78000

16　

MOS场效应管测试仪BJ2990

BJ2990
MOS场效应管测试仪

可测试N沟道及P沟道大功率MOS场效应管的VGS(th)、RDS(on)及ID为0—10A时的跨导gm等主要技术参数

58000

17　

晶体管反向截止电流测试仪JS-2D

JS-2D
晶体管反向截止电流测试仪

反向截止电流ICEO、ICBO、IEBO、ICES、ICER、ICEX测量范围及误差

面议

18　

二极管反向漏电流测义JS-2G

JS-2G
二极管反向漏电流测义

测试二极管及任何二端器件

7300

19　

高频小功率晶体管ft测试仪FT

FT
高频小功率晶体管ft测试仪

100-1000MHz200-2000MHz10-100MHz30-300MHz400-4000MHz

29500

20　

美国分立半导体器件综合测试仪IST8800

IST8800
美国分立半导体器件综合测试仪

可用于对晶体三极管，二极管，齐纳二极管

面议

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