|
SURFCOM 130A 操作简单，不需要操作手册可选择的“放大器”液晶触摸屏
= 备有大画面TFT彩色和便宜的的黑白液晶。
便于携带的小尺寸
= 可在在现场环境下使用。
分析参数与海外规格对应
=可任意选择JIS ISO DIN ASME CNOMO等规格
具有CE标志的安全设计
最高等最高等到直线度精度
0.3mm/50mm!!
仅显示必要的图标
采用个性化功能，可以只选择使用频度高的图标，自由进行图标配置，由此来制作操作者专用的菜单，可进行高效率的测量作业。
仅输入图纸上的数值即可进行测量的AI功能（已获得专利）
装载有AI功能，只需要输入加工图纸上的所记载的参数及容放值的条件，便可以自动选择最佳的取样长度、测量范围等测量条件来进行测量
显示测量步骤的引导功能
此功能可显示测量程序，以便使初次使用测量机的人也能顺利进行操作。
用于数据整理的便利的记录功能
用触摸笔可以把记录画面上书写的简单图形、文字如实地记录并打印到记录纸上。
满足各种需求的多种多样分析功能
装载有Ra、Rz、Ry、Sm、 S、tp等共34种粗糙度、32种波纹度的分析参数。
可能进行电气零部件的段差、膜厚以及面积等的分析。
倾斜补偿功能
装载有直线、前半、后半、两端、R面、花键曲线（已获得专利等6种自动倾斜补偿功能。
评价范围的任意设定（已获得专利）
用2条光标选择画面上的波形数据由2，可设定任意的主价范围进行各参数的运算。
配备有PC卡插槽
可管理测量条件及测量结果，以二进制格式和文本格式输出测量数据。从电脑的PC卡插槽很容易读取。 | 型号 | SURFCOM 130A | 测量范围 | X轴（横向） | 50m | Y轴（纵向） | 800mm(测量范围/分辩率：800mm/10nm、80mm/1nm、8mm/0.1nm) | 直线度精度 | 0.3mm/50mm | 分
析
项
目 | 使用规格 | JIS-2001,JIS-1994,JIS-1982,ISO-1997,ISO-1984.DIN-1990,ASME-1995,CNOMO规格 | 参数 | Ra,Rq,Ry,Rp,Rv,Rc,Rz,Rmax.Rt,Rz.J.R3z.Sm.S.R△q.Rla.Rlq.
TLL T A. lr.Pc.Rsk.Rku.Rk.Rpk.Rvk.Mr1.Mr2.Vo.K.tp.Rmr.tp2.Rmr2.Rdc
AVH.Hmax.Hmin.AREA.NCRX.R.Rx.AR.NR.CPM.SR.SAR | 评价曲线 | 剖面曲线、粗糙度曲线、滤波波纹度曲线、滤波中心线波纹度曲线、滚动圆波纹度曲线、滚动圆中心线波纹度曲线、DIN4776特殊曲线、粗糙度中心曲线（Motif）、波纹度中心曲线（Motif）、包络波纹度曲线 | 表面特性图表 | 负荷曲线、功率谱曲线图、振幅分布曲线 | 倾斜补偿方式 | 直线补偿、R面补偿、前半补偿、后半补偿、两端补偿、花键补偿、（直线、R面、两端补偿可以在任意范围内） | 倍率 | 纵倍率（Z轴） | 50、100、200、500、1K、2K、5K、10K、100K、200K*、500K*倍、自动 | 横倍（X轴） | 1、2、5、10、20、50、100、200、500、1K、2K、自动 | 滤波器的种类 | 标准型滤波器2RC、相位补偿型滤波器2RC、相位补偿型滤波器（高斯滤波器） | 测量速度 | 0.3、0.6、1..5 3mm/s(4速) | 传感器 | 前端半径2mm、材质为金刚石、测量力为0.75mN | 先进的
功能 | 测量AI | 装载有测量AI功能、即使初学者也可容易掌握 | 段差分析功能 | 最适于测量半导体零部件的膜厚及面积 | PC卡 | 输出文本文件、将数据传送至电脑 | 标准配件 | 标准片E-MC-S24B、记录纸（E-CH-S21A）、触摸笔（E-MA-S54A）操作说明书 | 各要素 | 电源 | AC100~240V±10%、50/60Hz、30VA | 设置尺寸 | 700（W）*300（D）*150（H）mm | 质量 | 8Kg |
|
MSN:h4040@163.com