超声波测厚仪25 MUTLI PLUS，测试仪器网专业销售，提供超声波测厚仪25 MUTLI PLUS产品简介、技术参数。 |
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超声波测厚仪
25 MUTLI PLUS
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| 产地：美国 | 厂商：美国泛美 | 市场报价：31000.00 | 技术指标
测量模式：
模式1：测量激励脉冲和第一次底面回波之间的时间间隔。使用接触式探头。
模式2：测量紧接激励脉冲的第一次界面波和第一次底波之间的时间间隔。使用延迟或水浸式探头。
模式3：测量激励脉冲后紧接第一次界面回波的两次底波间的时间间隔。使用延迟式或水浸式探头。
隔离层塑料模式：只适用于模式1和模式2，厚度范围为0.100---0.50mm。
多层测量模式：可同时显示多达四个层的厚度值。
总和模式：显示多达三层厚度的总和。
测量范围：钢材：0.150----508.00mm；塑料：0.100----50.00mm
声速范围：0.5080----13.9979mm/μs
精度(键盘可选)：低精度：0.1mm；标准精度：0.01mm；高精度：0.001mm
电池：6V可充电NiCad电池，或AA碱性电池。
电池工作时间：在背光灯关闭的一般测量模式下，电池的工作时间为25小时。
快速充电：充电时间为2小时。
自动关机功能：如连续6分钟无操作就自动关机。（该功能键盘可选）。
探头频率范围：2--30MHz（-3dB）。
工作温度：-10℃----+50℃。
键盘：密封，触摸式，带声音的彩色按键。
箱子：防水，接口密封的聚碳酸脂材料箱子。
单位：米制和英制（键盘可选）。
最大/最小值显示：与快速模式联合使用，可快速定位最大或最小厚度读数及其波形。
两种报警模式：采用声音和视频提示的高/低值报警。
（1）标准高低值报警；
（2）以前的厚度：--绝对值；--百分比
两种差值模式：
（1）实测厚度与参考厚度的差值，
(2）实测厚度与参考厚度的百分比差值。
自动调用：对多种类型的探头可自动调节内部参数和零位。
存储的标准设置：存有25种标准探头设置，便于对Panametrics标准探头进行快速且简单的校准。
存储的用户设置：最多可存储35种用户定义的探头设置，以满足特殊应用要求。
体积：238×138×38mm
重量：0.95 Kg
内置数据记录器
数据记录器和RS-232：25 MULTI PLUS 通过RS-232接口来存储、调用、清除和传递厚度读数和波形，比特率、字节长度、停止位和奇偶性等参数均可以在面板上调节。
最大存储量：
标准配置：18,000个厚度读数或1,700个带厚度的波形
升级模式1：36,000个厚度读数或3,400个带厚度的波形
升级模式2：54,000个厚度读数或5,100个带厚度的波形
定位编码：8个字符的文件名加16个字符的扩展名。
文件结构：数据可以存储在7个标准的或用户定义的文件结构内。
报告：在线报告：统计概要、最大值/最小值及其位置，文件比较：屏幕上显示当前读数和先前读数的比较。
显示屏
显示：带背光的液晶显示。对比度可调，显示区域为102×86mm。
背光：节电型场致背光。
放大模式：可将被测回波水平居中地水平扩展波形显示。
冻结模式：将实时带厚度值的A扫描波形冻结或解冻。
保留/空屏模式（键盘可选）：在无测试信号时保留最后测量波形和厚度或显示空屏。
整流类型：射频波、正半波、负半波和全波整流。
波形显示范围和延迟控制：利用可调的延迟，按可选的间隔来设定波形的水平跨度。
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