集成电路测试仪ICT-33C+，测试仪器网专业销售，提供集成电路测试仪ICT-33C+产品简介、技术参数。 |
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集成电路测试仪
ICT-33C+
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产品简介 器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判别其逻辑功能好坏。 器件型号识别：当不知被测器件的型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。 器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。 器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致，引脚排列一致的器件型号。 内部RAM缓冲区修改：仪器可对内部缓冲区进行多种编辑。 微机通讯：仪器可通过串行口接受来自微机的数据或将内部RAM缓冲区的数据传送到微机。 ROM器件读入：仪器可将128K以内的ROM器件内的数据读入并保存。 ROM器件写入：仪器可将内部缓冲区的数据写入到128K以内的ROM器件中。 适用范围 维修各类电子产品，判断其集成电路故障。 破译被抹去型号集成电路的真实型号。 烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。 开发各类智能电子产品，调试程序。 检验新购器件的质量。 可测器件种类 TTL74、54系列。 TTL75、55系列。 CMOS40、45、14系列。 单片机系列。 EPROM、EEPROM、RAM、FLASHＲＯＭ系列。 光耦合器，数码管系列。 常用微机外围电路系列。 其它常用电路及用户提供系列。 运算放大器系列（单运放、双运放、四运放）。 三端稳压器系列（78XX，79XX，317，337）。
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