美国分立半导体器件综合测试仪IST8800，测试仪器网专业销售，提供美国分立半导体器件综合测试仪IST8800产品简介、技术参数。

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产地：美国

厂商：美国IST

市场报价：

IST8800分立半导体器件综合测试仪

本仪器是美国IST公司最新研制的产品，采用Z80芯片，微机控制，液晶显示其测试条件及测量结果，可用于对晶体三极管，二极管，齐纳二极管，J型场效应管，可控硅管。，三端双向可控硅管和三端稳压器进行直流参数的测试，并可自动进行合格/不合格判断，对器件进行分选.本仪器并配有RS 232C串联接口和IEE 488接口，可配接电脑数据记录仪及打印机，打印出测试条件及结果。并可以对各类器件的予置测试条件进行存储。关机后，仍可保存在机内，以备下一次的使用。

性能指标：

三极管 Icbo Iceo Ices Iebo Icev
电流	电压	分辨率	误差
0 200.0 nA	0 600V	0.1nA	±2%
0 200μA	0 600V	1 nA	±1.5%
0 200.0μA	0 600v	1.1μA	±1%
0 20.00mA	0 500V	10μA	±1%
三级管 BVcbo BVebo BVcer BVces BVcev
电压	电流	分辨率	误差
0 600V	0 30mA	3V	±1%
0 30V	0 200mA	0.1V	±1%
三极管 Vve(sat)Vbe(sat)
电压	电流	分辨率	误差
0 5V	0 5A	2mV	±2%
0 2V	0 1A	1mV	±2%
三极管 hFE
	量程	分辨率	误差
hFE	0 5000	1	±2%
Vce	0 20V
Ic	0 5A
Ib	0 1A
二极管Ir
电流	电压	分辨率	误差
0 200.0nA	0 600V	0.1nA	±2%
0 200.0μA	0 600V	1 nA	±1.5%
0 2.00μA	0 600V	0.1μA	±1%
0 20.00mA	0 500V	10μA	±1%
二极管BVr
C	电流	分辨率	误差
0 30V	0 200mA	0.1V	±2%
0 600V	0 20mA	3V	±2%
二极管Vf
电压	电流	分辨率	误差
0 5V	0 5A	2mV	±2%

稳压二极管BVz
电压	电流	分辨率	误差
0 300V	0 30mA	1V	±1%
0 60V	0 200mA	0.3V	±1.5%
0 40V	0 1mA	0.1V	±1%
稳压二极管Izr
电流	电压	分辨率	误差
0 500mA	0 30V	2mA	±1%
0 100mA	0 60V	0.4mA	±1%
0 20mA	0 250V	80nA	±2.5%
稳压二极管Vzr
电流	电压	分辨率	误差
0 300V	0 30mA	1V	±1%
0 60V	0 200mA	0.3V	±1.5%
0 40V	0 1A	0.1V	±1%
稳压二极管Vzf
电压	电流	分辨率	误差
0 5V	0 5A	2mv	±1%
J/M型场效应晶体管Idss
电流	电压	分辨率	误差
0 0.2A	0 30V	10μA	±2%
0 30mA	0 300V	1μA	±2%
J型场效应晶体管Igss
电流	电压	分辨率	误差
0 20.00mA	0 30V	10μA	±2%
0 200.0μA	0 30V	0.1μA	±1.5%
0 2.00μA	0 30V	1nA	±1.5%
0 200.0nA	0 30V	0.1nA	±1.5%
J型场效应晶体管BVgss
电压	电流	分辨率	误差
0 300V	0 30mA	1v	±2%
0 30V	0 200mA	0.2v	±1.5%
可控硅整流器件及双向可控硅开关器件Vgt Igt
电流	电压	分辨率	误差
0 100.00mA	0 40V	50μA	±1.5%
0 10.00mA	0 40V	5μA	±1.5%
0 1.00mA	0 40V	0.5μA	±2%
三端稳压电源集成块
	量程范围	分辨率	误差
Vo	0 ±28V	0.1V	±2%
Iib	0 ±20mA	1μA	±2%

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